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The Applications of Cooled CCD Cameras Which Are Operated with Emission Microscopes (EMMI)
半导体器件和电路制造技术飞速发展，器件特征尺寸不断下降，而集成度不断上升。这两方面的变化都给失效缺陷定位和失效机理的分析带来巨大的挑战。对于半导体失效分析(FA)而言，微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。微光显微镜其高灵敏度的侦测能力，可侦测到半导体组件中电子－电洞对再结合时所发射出来的光线，能侦测到的波长约在350nm ~ 1100nm 左右。 它可以广泛的应用于侦测IC 中各种组件缺陷所产生的漏电流，如： Gate oxide defects / Leakage、Latch up、ESD failure、junction Leakage等。EMMI的工作原理图如下: -
A Method to Testing Concentrating Multijunction Solar cell
测试单位：北京卓立汉光仪器有限公司(Zolix Instrument Co., LTD) 测试对象：聚光多结太阳能电池 实验目的：多结太阳能电池的QE及IV特性测试 -
A Method to Testing Photoelectrochemical cell testing
测试单位：北京卓立汉光仪器有限公司（Zolix Instrument Co.,LTD） 测试对象：光电化学电池（PEC） 实验目的：光电化学电池的IPCE -
Track The Temporal And Spatial Changes Of Matter In The Plasma
等离子体一直是物理研究中非常重要的一个方向，涉及的研究方向包括：等温等离子体，燃烧，爆炸，LIBS，激光加工等等，并在工业领域具有广泛的应用场景。在涉及等离子体的一系列研究方向中，有一种普遍的需求，了解等离子体由何种成分构成，以及其如何随时间变化，及测试等离子体的关键参数：温度和自由电子、离子浓度。 为了收集此类信息，我们需要同时进行等离子成像和等离子体光谱测试。 -
Fast & Furious-Almost 30 thousand fps rate supported by sCMOS cameras
时间分辨光谱广泛用于材料/相互作用的动态特性以及动力学过程分析，其应用涵盖激光与放电等离子体，燃烧与爆炸，光伏，光催化，原子分子动力学，化学反应动力学，生物医学，半导体材料载流子动力学等方向。传统的时间分辨光谱方法，或需要多次重复实验（如使用PMT类高速单点探测器或ICCD类快速门控探测器），或需要较高的成本（如分幅相机、条纹相机、高速线阵/面阵探测器等），且灵敏度、分辨率、动态范围比普通科研级光谱相机相距甚远。
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Products
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- SolarIV series Solar Cell Voltage and Current(IV)Characteristics Test System
- Sirius series Solar Simulator
- SCS600 series SolarCell Quantum Efficiency Measurement System
- SCS600-MAX Large Area Solar Measurement System
- DSR600 Photodetector Spectral Response Measurement System
- DSR300 Micro-nano Device Spectral Response Measurement System MORE >
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- OTSB Series Solid Aluminum Optical Breadboards, 13mm Thickness
- NTBB Series Stainless Steel Optical Breadboard, 50/100/150/200mm Thichness
- NTBP Series Stainless Steel Optical Breadboard, 50/100/150/200/300mm
- NTBR Series Stainless Steel Optical Breadboard, 50/100/150/200/300mm
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